产品简介XC-LIM50型激光位移计是一款非接触测量原理的位移传感器，本设备采用相位比较原理进行测量。创新性的将双轴倾角测量模块与激光测距传感器完美结合在一起，设备在测量距离的同时可以同步测量本身的倾斜变化量。设备采用卡尔曼滤波算法，角度测量分辨率0.01°，实际测量精度可达0.1°，测距精度1mm。在一些监测应用中（例如隧道沉降观测、建筑物三维倾斜变形）同时可以观测3种物理数据变化量，测量的距离
产品简介
XC-LIM50型激光位移计是一款非接触测量原理的位移传感器，本设备采用相位比较原理进行测量。创新性的将双轴倾角测量模块与激光测距传感器完美结合在一起，设备在测量距离的同时可以同步测量本身的倾斜变化量。设备采用卡尔曼滤波算法，角度测量分辨率0.01°，实际测量精度可达0.1°，测距精度1mm。在一些监测应用中（例如隧道沉降观测、建筑物三维倾斜变形）同时可以观测3种物理数据变化量，测量的距离值可以通过角度值进行计算校准，使得测量结果更加准确。可广泛应用于：建筑物、地铁、公路隧道、地质灾害、文物、桥梁、大坝等行业的非接触式测量中。
功能特点
技术指标
参数类型 | 激光测距 | 双轴倾角 | |
测量范围 | 0.2M~65M | 双轴±90° | |
测量精度 | 典型精度 ±1mm+20ppm | 0.1° | |
分辨率 | 0.1mm | 0.01° | |
重复性 | ±0.5mm | 0.1° | |
外观尺寸 | 85(长)*54.2(宽)*35(高) | ||
工作温度 | 工业级-40~85℃ | 供电电压 | 8~24V |
数据接口 | RS485 | 防水等级 | IP65 |
